bones notícies! Teradyne completa el lliurament del 6000th J750 Sistema de proves de semiconductor
Avui (6), Teradyne ha anunciat a North Reading, Massachusetts, EUA que la màquina de prova de semiconductors de la sèrie J750 ha aconseguit el 6000è enviament. Com un dels fabricants de proves amb major capacitat instal·lada del sistema de prova J750, Ardentec va acollir el sisè sistema J750 de Teradyne.
Respecte a la col·laboració, Chi-Ming Chang, vicepresident i president d’Ardentec, va dir: "El J750 és una solució reconeguda al mercat de MCU". "La" petjada zero "del J750 ens permet maximitzar l'ús de l'espai de prova per augmentar la Capacitat, i un rendiment de diversos llocs web pot reduir els costos de la prova. Es tracta d'una combinació exitosa per a qualsevol entorn de prova i estem encantats d'acceptar. aquest enviament, que és important per a la fita Teradyne ".
Ty Akin, vicepresident de vendes globals de Teradyne, va dir: "Terida es complau treballar amb Ardentec per aconseguir aquesta fita important. Des del 2004, Ardentec ha utilitzat el sistema de prova Teradyne J750 per satisfer les necessitats canviants dels clients. Amb una àmplia gamma d'instruments, el J750 pot donar servei a una àmplia gamma d'aplicacions del mercat i a diversos productes, incloses les aplicacions MCU automoció i IoT. Tot i l’augment de la complexitat del producte i la pressió del mercat, el programari Teradyne IG-XL funciona conjuntament amb la plataforma J750 Operacions encara pot reduir eficaçment la càrrega de treball de l’enginyeria de proves i ajudar els nostres clients a assolir la millor economia de proves tal i com estava previst. "
Es informa que la sèrie Teradyne J750 proporciona solucions de prova de productes MCU per a aplicacions de consum i distribució líder al món i també és líder mundial en proves de sensors d’imatge. La integració de productes de baix cost continua creixent i s’ha estès a sensors d’empremta digital, MEMS i productes d’Internet of Things (IoT) amb capacitats sense fil MCU. L'escalabilitat del sistema de prova J750 la converteix en una opció ideal per a aquests productes.
A més, la sèrie Teradyne J750 és un estàndard de la indústria per a la qualitat de les proves, ajudant eficaçment als fabricants de semiconductors a perseguir objectius de defecte zero i objectius de rendiment multi-lloc. La capacitat instal·lada del sistema de prova J750 ha superat ara les 6.000 unitats i s’ha utilitzat àmpliament en més de 50 OSATs, que poden donar suport a una solució de producció massiva completa per a proves d’hòsties i proves finals.
Respecte a la col·laboració, Chi-Ming Chang, vicepresident i president d’Ardentec, va dir: "El J750 és una solució reconeguda al mercat de MCU". "La" petjada zero "del J750 ens permet maximitzar l'ús de l'espai de prova per augmentar la Capacitat, i un rendiment de diversos llocs web pot reduir els costos de la prova. Es tracta d'una combinació exitosa per a qualsevol entorn de prova i estem encantats d'acceptar. aquest enviament, que és important per a la fita Teradyne ".
Ty Akin, vicepresident de vendes globals de Teradyne, va dir: "Terida es complau treballar amb Ardentec per aconseguir aquesta fita important. Des del 2004, Ardentec ha utilitzat el sistema de prova Teradyne J750 per satisfer les necessitats canviants dels clients. Amb una àmplia gamma d'instruments, el J750 pot donar servei a una àmplia gamma d'aplicacions del mercat i a diversos productes, incloses les aplicacions MCU automoció i IoT. Tot i l’augment de la complexitat del producte i la pressió del mercat, el programari Teradyne IG-XL funciona conjuntament amb la plataforma J750 Operacions encara pot reduir eficaçment la càrrega de treball de l’enginyeria de proves i ajudar els nostres clients a assolir la millor economia de proves tal i com estava previst. "
Es informa que la sèrie Teradyne J750 proporciona solucions de prova de productes MCU per a aplicacions de consum i distribució líder al món i també és líder mundial en proves de sensors d’imatge. La integració de productes de baix cost continua creixent i s’ha estès a sensors d’empremta digital, MEMS i productes d’Internet of Things (IoT) amb capacitats sense fil MCU. L'escalabilitat del sistema de prova J750 la converteix en una opció ideal per a aquests productes.
A més, la sèrie Teradyne J750 és un estàndard de la indústria per a la qualitat de les proves, ajudant eficaçment als fabricants de semiconductors a perseguir objectius de defecte zero i objectius de rendiment multi-lloc. La capacitat instal·lada del sistema de prova J750 ha superat ara les 6.000 unitats i s’ha utilitzat àmpliament en més de 50 OSATs, que poden donar suport a una solució de producció massiva completa per a proves d’hòsties i proves finals.